Nutzen Sie unsere Interferometersysteme mit Messaperturen von 4“ bis 12“ für Ihre Metrologie. Hierbei liefern wir Ihnen einen vollständigen Messplatz inklusive isoliertem Messtisch. Je nach Anwendung bieten wir Ihnen auch verschiedene Ausbaustufen an.
4″ Interferometer
| Technik: | Laser basierende Fizeau-Interferometrie |
| Objektive: | Austauschbare 4”-sphärische Referenz-Objektive Bajonett-Verschluss |
| Übliche Objektivreihe: | 0,75 / 1,0 / 1,5 / 3,3 / 7,2 |
| Oberflächengenauigkeit der Objektive: | / 10 |
| CNC-Achsen: | X-Y-Nivellierung |
| CNC-Achsen: | Z-Grob- und Feinjustage |
| Auflösung: | 768 x 576 Pixel |
| Z-Verfahrweg: | 500 mm |
| Dimensionen: | 950 x 330 x 400 |
| Gewicht: | ca. 40 kg |
| Typ: | Helium Neon (Klasse II) |
| Wellenlänge: | 632,8 nm |
| Ausgangsleistung: | 1,5 mW |
Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Z- Maßstab für hochgenaue Radiusermittlung
Planreferenz zur Vermessung ebener Flächen
Zoom
4″ Interferometer
– Fizeau Interferometer
– 4″-System
– Tischgerät
– Automatische Interferenz-Auswertung
6″ Interferometer
– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser 6″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung
| Technik: | Laser basierende Fizeau-Interferometrie Messung der Ebenheit von polierten oder hochglänzenden Präzisionsoberflächen |
| Systemgenauigkeit: | / 10 |
| Probenzuführung: | horizontal (Option: vertikal) |
| Auflösung: | 768 x 576 Pixel |
| Dimensionen: | 800 mm x 800 mm x 2000 mm |
| Typ: | Helium Neon (Klasse II) |
| Wellenlänge: | 632,8 nm |
| Ausgangsleistung: | 1,5 mW |
| Strahlpolarisation: | zirkular |
Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Zoom
Hochauflösende Kamera
6″ Interferometer
12″ Interferometer
| Technik: | Fizeau-Interferometrie, mit piezoelektrischer Phasenschiebeeinheit Messung der Ebenheit von polierten oder hochglänzenden Präzisions-Oberflächen (mit Zusatzeinrichtung auch geläppte Oberflächen) |
| Probenzuführung: | horizontal oder vertikal |
| Genauigkeit: | / 8 |
| Auflösung Kamera | 768 x 576 Pixel, höhere Auflösung optional |
| Typ: | Helium Neon (Klasse II) |
| Wellenlänge: | 632,8 nm |
| Ausgangsleistung: | 1,5 mW |
| Strahlpolarisation: | zirkular |
- Livebild am Monitor
- Software für Windows 7
- Automatische Generierung von Protokollen
- 2D und 3D Graphik
- Unterschiedliche Messdarstellungen
- Kalibrierung manuell/automatisch
- Zoom
- Genauigkeit: . ./10
- Hochauflösende Kamera
12″ Interferometer
– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser von 4″ bis 12″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung
Ihr Ansprechpartner
| Vorname: | Richard |
| Name: | Widemann |
| Zuständigkeitsbereich: | UP-Technologie, Dienstleistungen |
| Telefon: | +49 (0) 7552 – 4 05 99-80 |