Stand-Alone-Geräte

Nutzen Sie unsere Interferometersysteme mit Messaperturen von 4“ bis 12“ für Ihre Metrologie. Hierbei liefern wir Ihnen einen vollständigen Messplatz inklusive isoliertem Messtisch. Je nach Anwendung bieten wir Ihnen auch verschiedene Ausbaustufen an.

4″ Interferometer

Technik: Laser basierende Fizeau-Interferometrie
Objektive: Austauschbare 4”-sphärische Referenz-Objektive
Bajonett-Verschluss
Übliche Objektivreihe: 0,75 / 1,0 / 1,5 / 3,3 / 7,2
Oberflächengenauigkeit der Objektive: / 10
CNC-Achsen: X-Y-Nivellierung
CNC-Achsen: Z-Grob- und Feinjustage
Auflösung: 768 x 576 Pixel
Z-Verfahrweg: 500 mm
Dimensionen: 950 x 330 x 400
Gewicht: ca. 40 kg
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW

Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Z- Maßstab für hochgenaue Radiusermittlung
Planreferenz zur Vermessung ebener Flächen
Zoom

4″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– 4″-System
– Tischgerät
– Automatische Interferenz-Auswertung

6″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser 6″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung

Technik: Laser basierende Fizeau-Interferometrie
Messung der Ebenheit von polierten
oder hochglänzenden Präzisionsoberflächen
Systemgenauigkeit: / 10
Probenzuführung: horizontal (Option: vertikal)
Auflösung: 768 x 576 Pixel
Dimensionen: 800 mm x 800 mm x 2000 mm
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW
Strahlpolarisation: zirkular

Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Zoom
Hochauflösende Kamera

6″ Interferometer

12″ Interferometer

Technik: Fizeau-Interferometrie, mit piezoelektrischer
Phasenschiebeeinheit
Messung der Ebenheit von polierten oder
hochglänzenden Präzisions-Oberflächen (mit
Zusatzeinrichtung auch geläppte Oberflächen)
Probenzuführung: horizontal oder vertikal
Genauigkeit: / 8
Auflösung Kamera 768 x 576 Pixel,
höhere Auflösung optional
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW
Strahlpolarisation: zirkular
  • Livebild am Monitor
  • Software für Windows 7
  • Automatische Generierung von Protokollen
  • 2D und 3D Graphik
  • Unterschiedliche Messdarstellungen
  • Kalibrierung manuell/automatisch
  • Zoom
  • Genauigkeit: . ./10
  • Hochauflösende Kamera

12″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser von 4″ bis 12″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung

Ihr Ansprechpartner

Richard Widemann
Vorname: Richard
Name: Widemann
Zuständigkeitsbereich: UP-Technologie,
Dienstleistungen
Telefon: +49 (0) 7552 – 4 05 99-80

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