Stand-Alone-Geräte

Nutzen Sie unsere Interferometersysteme mit Messaperturen von 4“ bis 12“ für Ihre Metrologie. Hierbei liefern wir Ihnen einen vollständigen Messplatz inklusive isoliertem Messtisch. Je nach Anwendung bieten wir Ihnen auch verschiedene Ausbaustufen an.

4″ Interferometer

4" Interferometer
4
Technische Daten
Laser Spezifikation
Optionen
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Technische Daten
Technik: Laser basierende Fizeau-Interferometrie
Objektive: Austauschbare 4”-sphärische Referenz-Objektive
Bajonett-Verschluss
Übliche Objektivreihe: 0,75 / 1,0 / 1,5 / 3,3 / 7,2
Oberflächengenauigkeit der Objektive: / 10
CNC-Achsen: X-Y-Nivellierung
CNC-Achsen: Z-Grob- und Feinjustage
Auflösung: 768 x 576 Pixel
Z-Verfahrweg: 500 mm
Dimensionen: 950 x 330 x 400
Gewicht: ca. 40 kg
Laser Spezifikation
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW
Optionen

Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Z- Maßstab für hochgenaue Radiusermittlung
Planreferenz zur Vermessung ebener Flächen
Zoom

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4″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– 4″-System
– Tischgerät
– Automatische Interferenz-Auswertung

6″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser 6″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung

6" Interferometer
6
Technische Daten
Laser Spezifikation
Optionen
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Technische Daten
Technik: Laser basierende Fizeau-Interferometrie
Messung der Ebenheit von polierten
oder hochglänzenden Präzisionsoberflächen
Systemgenauigkeit: / 10
Probenzuführung: horizontal (Option: vertikal)
Auflösung: 768 x 576 Pixel
Dimensionen: 800 mm x 800 mm x 2000 mm
Laser Spezifikation
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW
Strahlpolarisation: zirkular
Optionen

Automatische Streifenauswertung mit:
• Piezo Phasenschiebe-Einheit
• Software für Windows 7
Zoom
Hochauflösende Kamera

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6″ Interferometer

12″ Interferometer

Technische Daten
Laser Spezifikation
Software
Optionen
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Technische Daten
Technik: Fizeau-Interferometrie, mit piezoelektrischer
Phasenschiebeeinheit
Messung der Ebenheit von polierten oder
hochglänzenden Präzisions-Oberflächen (mit
Zusatzeinrichtung auch geläppte Oberflächen)
Probenzuführung: horizontal oder vertikal
Genauigkeit: / 8
Auflösung Kamera 768 x 576 Pixel,
höhere Auflösung optional
Laser Spezifikation
Typ: Helium Neon (Klasse II)
Wellenlänge: 632,8 nm
Ausgangsleistung: 1,5 mW
Strahlpolarisation: zirkular
Software
  • Livebild am Monitor
  • Software für Windows 7
  • Automatische Generierung von Protokollen
  • 2D und 3D Graphik
  • Unterschiedliche Messdarstellungen
  • Kalibrierung manuell/automatisch
Optionen
  • Zoom
  • Genauigkeit: . ./10
  • Hochauflösende Kamera
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12″ Interferometer

– Fizeau Interferometer
– Messfelddurchmesser von 4″ bis 12″
– Granit Basis
– Passives Schwingungsdämpfungssystem
– Automatische Interferenz-Auswertung

Ihr Ansprechpartner

Joachim Arnold
Vorname: Joachim
Name: Arnold
Zuständigkeitsbereich: Technologie Metalloptiken und Werkzeuge
Telefon: +49 (0) 7552 – 4 05 99-60
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